中國航天科技集團公司第五研究院第五一O研究所成永軍研究員因作為主要發(fā)明人之一提出了非蒸散型吸氣劑延伸超高/極高真空標(biāo)準校準下限的方法，推動了真空計量技術(shù)的發(fā)展，從而獲得陳嘉庚青年科學(xué)獎技術(shù)科學(xué)獎。
成永軍，1975年4月18日出生于甘肅省會寧縣。1998年畢業(yè)于西北工業(yè)大學(xué)，同年進入中國航天科技集團公司第五研究院第五一 研究所工作至今。2008年晉升為高級工程師。現(xiàn)任中國航天科技集團公司第五研究院第五一 研究所真空計量研究室副主任、真空一級計量站副站長。目前被聘為中國計量測試學(xué)會真空計量專業(yè)委員會委員、計量主考人。
成永軍高級工程師一直以來從事真空計量學(xué)領(lǐng)域的實驗研究工作。作為項目負責(zé)人和主要完成人，研制出我國首臺超高/極高真空標(biāo)準、恒壓式正壓漏孔標(biāo)準、極小氣體流量測量標(biāo)準、新一代靜態(tài)膨脹法真空基礎(chǔ)標(biāo)準等多臺真空計量標(biāo)準，進一步完善了我國真空量傳體系。目前已獲授權(quán)國家發(fā)明專利15項，在國內(nèi)外學(xué)術(shù)刊物發(fā)表論文60余篇。曾先后榮獲科技進步一等獎、技術(shù)發(fā)明二等獎等。
非蒸散型吸氣劑在真空計量標(biāo)準校準下限延伸中的應(yīng)用
影響真空標(biāo)準校準下限的主要因素是校準室內(nèi)表面的放氣效應(yīng)。為了降低內(nèi)表面放氣效應(yīng)對校準下限的影響，國際上采取的主要手段是對校準室內(nèi)表面進行拋光處理和進行高溫烘烤，但這并不能消除放氣效應(yīng)的影響。因此，延伸真空標(biāo)準校準下限仍然是一項挑戰(zhàn)性的工作。
非蒸散型吸氣劑具有兩個顯著地特點：一個是在室溫下對活性氣體，特別是氫氣的抽速很大；另一個是對惰性氣體無抽速。
首次提出利用非蒸散型吸氣劑延伸真空標(biāo)準校準下限的方法，取得了顯著成效。
將非蒸散型吸氣劑應(yīng)用于靜態(tài)膨脹法真空標(biāo)準中，以惰性氣體作為校準氣體時，可以消除器壁放氣效應(yīng)的影響。這是因為非蒸散型吸氣劑既維持了校準室中的高真空本底，又不改變校準室內(nèi)惰性氣體的氣體量，從而保證氣體靜態(tài)膨脹時波義耳定律嚴格成立，使標(biāo)準壓力能夠準確計算，有效將靜態(tài)膨脹法真空標(biāo)準的校準下限從國際最好水平（10-5Pa）延伸到了10-7Pa，為靜態(tài)膨脹法的研究提供了另一條思路。
將非蒸散型吸氣劑用在超高/極高真空標(biāo)準中，以惰性氣體校準時，非蒸散型吸氣劑既維持了校準室內(nèi)極高真空本底，又不改變對校準室的有效抽速，保證了動態(tài)流量法原理嚴格成立，首次將國內(nèi)真空校準能力的下限延伸到了10-10Pa。